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超快 ESD 和闩锁测试系统
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仪器配置: |
Thermo Scientific™ MK.2TE |
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应用范围: |
1.核心用途:专为有高引脚数量(High Pin Count)的先进 IC 器件(如系统级芯片 SoC、微处理器、GPU 等)设计,用于其ESD 和闩锁测试。 2.遵循行业标准:严格按照行业普遍接受的人体模型 (HBM) 和机器模型 (MM) 进行ESD测试,并依据 JEDEC EIA/JESD 78 标准进行闩锁效应测试,确保产品的合规性。 |
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技术指标: |
ESD 测试电压范围: 人体模型 (HBM):30 V 至 8 kV 机器模型 (MM):30 V 至 2 kV 闩锁测试电流/电压:最高可测 30V/2A 或 100V/1A 独立电源:最多可同时独立上电 5 组电源; 支持 128 至 768 个测试引脚(可现场升级),并支持通过 Ping Ganging 等方法测试更高引脚数器件。
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静电放电测试仪
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仪器配置: |
Thermo Scientific™ Orion3 |
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应用范围: |
识别和强化器件内部的敏感结构,确保产品在全规模生产前的可靠性。它支持 场诱导空气放电 (FICDM) 和 接触式放电 (CCDM),包括专有的 CDM2 测试方法。 |
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技术指标: |
测试电压范围:±25 至 ±2000 V(±1 V 步进值) 支持的测试方法: - FICDM (场诱导空气放电法) - CCDM / LI-CCDM (接触式放电法,含 Thermo Scientific 专有 CDM2 方法) 支持的行业标准:JS-002, JEDEC, ESDA, AEC, JEITA, LI-CCDM 测试面积:10.16 x 10.16 cm (4 x 4 in.) |
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